IEC 60749-30-2005 半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
作者:标准资料网 时间:2024-04-28 14:59:58 浏览:8881
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part30:Preconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevicespriortoreliabilitytesting
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
【标准号】:IEC60749-30-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;机械试验;可靠度;试验;元部件;耐力;电子设备及元件;电学测量;气候;半导体;表面安装;可靠性试验;电子工程;环境试验;集成电路;尺寸;温湿度预调节;表面安装设备;电气工程;半导体器件;气候试验;气候的
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:Establishesastandardprocedurefordeterminingthepreconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevices(SMDs)priortoreliabilitytesting.Thetestmethoddefinesthepreconditioningflowfornon-hermeticsolid-stateSMDsrepresentativeofatypical
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第30部分:可靠性试验之前不气密的表面安装器件的预调试
【标准号】:IEC60749-30-2005
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2005-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:定义;机械试验;可靠度;试验;元部件;耐力;电子设备及元件;电学测量;气候;半导体;表面安装;可靠性试验;电子工程;环境试验;集成电路;尺寸;温湿度预调节;表面安装设备;电气工程;半导体器件;气候试验;气候的
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatic;Climatictests;Components;Definitions;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Preconditioning;Reliability;Reliabilitytesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;SMD;Surfacemounting;Temperature;Testing;Tightness;Visualinspection(testing)
【摘要】:Establishesastandardprocedurefordeterminingthepreconditioningofnon-hermeticsurfacemountdevices(SMDs)priortoreliabilitytesting.Thetestmethoddefinesthepreconditioningflowfornon-hermeticsolid-stateSMDsrepresentativeofatypical
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语
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